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Automatic Identification of Surface Defects in Semiconductor Materials Based on Machine Learning

Huan Li

Huan Li

University of Electronic Science and Technology of ChinaChengdu, China
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Li, Huan
  
17 mar 2025
Automatic Identification of Surface Defects in Semiconductor Materials Based on Machine Learning's Cover Image
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Pubblicato online: 17 mar 2025
Ricevuto: 08 ott 2024
Accettato: 04 feb 2025
DOI: https://doi.org/10.2478/amns-2025-0271
Parole chiave
© 2025 Huan Li, published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Lingua:
Inglese
Frequenza di pubblicazione:
1 volte all'anno
Argomenti della rivista:
Scienze biologiche, Scienze della vita, altro, Matematica, Matematica applicata, Matematica generale, Fisica, Fisica, altro
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