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Automatic Identification of Surface Defects in Semiconductor Materials Based on Machine Learning

Huan Li

Huan Li

University of Electronic Science and Technology of ChinaChengdu, China
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Li, Huan
  
17 mars 2025
Automatic Identification of Surface Defects in Semiconductor Materials Based on Machine Learning's Cover Image
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Publié en ligne: 17 mars 2025
Reçu: 08 oct. 2024
Accepté: 04 févr. 2025
DOI: https://doi.org/10.2478/amns-2025-0271
Mots clés
© 2025 Huan Li, published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Langue:
Anglais
Périodicité:
1 fois par an
Sujets de la revue:
Sciences de la vie, Sciences de la vie, autres, Mathématiques, Mathématiques appliquées, Mathématiques générales, Physique, Physique, autres
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