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Automatic Identification of Surface Defects in Semiconductor Materials Based on Machine Learning

Huan Li

Huan Li

University of Electronic Science and Technology of ChinaChengdu, China
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Li, Huan
  
17. März 2025
Automatic Identification of Surface Defects in Semiconductor Materials Based on Machine Learning's Cover Image
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Online veröffentlicht: 17. März 2025
Eingereicht: 08. Okt. 2024
Akzeptiert: 04. Feb. 2025
DOI: https://doi.org/10.2478/amns-2025-0271
Schlüsselwörter
© 2025 Huan Li, published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Sprache:
Englisch
Zeitrahmen der Veröffentlichung:
1 Hefte pro Jahr
Fachgebiete der Zeitschrift:
Biologie, Biologie, andere, Mathematik, Angewandte Mathematik, Mathematik, Allgemeines, Physik, Physik, andere
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