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Pattern Recognition and Algorithm Improvement for Error Analysis in Voltage Transformer Low Voltage Testers

Xu Chen

Xu Chen

State Grid Ningxia Marketing Service Center (State Grid Ningxia Metrology Center)Yinchuan, China
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Chen, Xu
, 
Haomiao Zhang

Haomiao Zhang

State Grid Ningxia Marketing Service Center (State Grid Ningxia Metrology Center)Yinchuan, China
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Zhang, Haomiao
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Chao Zhang

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Zhang, Chao
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Zhiqiang Cheng

Zhiqiang Cheng

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Cheng, Zhiqiang
, 
Yinzhe Xu

Yinzhe Xu

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Xu, Yinzhe
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Yu Yan

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Yan, Yu
 und 
Xinrui Zhang

Xinrui Zhang

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Zhang, Xinrui
  
27. Nov. 2024
Pattern Recognition and Algorithm Improvement for Error Analysis in Voltage Transformer Low Voltage Testers's Cover Image
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Online veröffentlicht: 27. Nov. 2024
Eingereicht: 03. Juli 2024
Akzeptiert: 22. Okt. 2024
DOI: https://doi.org/10.2478/amns-2024-3506
Schlüsselwörter
© 2024 Xu Chen et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Chen, Xu
State Grid Ningxia Marketing Service Center (State Grid Ningxia Metrology Center)Yinchuan, China
Zhang, Haomiao
State Grid Ningxia Marketing Service Center (State Grid Ningxia Metrology Center)Yinchuan, China
Zhang, Chao
State Grid Ningxia Marketing Service Center (State Grid Ningxia Metrology Center)Yinchuan, China
Cheng, Zhiqiang
State Grid Ningxia Marketing Service Center (State Grid Ningxia Metrology Center)Yinchuan, China
Xu, Yinzhe
State Grid Ningxia Marketing Service Center (State Grid Ningxia Metrology Center)Yinchuan, China
Yan, Yu
State Grid Ningxia Marketing Service Center (State Grid Ningxia Metrology Center)Yinchuan, China
Zhang, Xinrui
State Grid Ningxia Marketing Service Center (State Grid Ningxia Metrology Center)Yinchuan, China
Sprache:
Englisch
Zeitrahmen der Veröffentlichung:
1 Hefte pro Jahr
Fachgebiete der Zeitschrift:
Biologie, Biologie, andere, Mathematik, Angewandte Mathematik, Mathematik, Allgemeines, Physik, Physik, andere
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