Otwarty dostęp

Automatic Identification of Surface Defects in Semiconductor Materials Based on Machine Learning

Huan Li

Huan Li

University of Electronic Science and Technology of ChinaChengdu, China
Wyszukaj tego autora
Sciendo|Google Scholar
Li, Huan
  
17 mar 2025
Automatic Identification of Surface Defects in Semiconductor Materials Based on Machine Learning's Cover Image
O artykule
Poprzedni artykuł
Następny artykuł
Zacytuj
Pobierz okładkę
Data publikacji: 17 mar 2025
Otrzymano: 08 paź 2024
Przyjęty: 04 lut 2025
DOI: https://doi.org/10.2478/amns-2025-0271
Słowa kluczowe
© 2025 Huan Li, published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Li, Huan
University of Electronic Science and Technology of ChinaChengdu, China
Język:
Angielski
Częstotliwość wydawania:
1 razy w roku
Dziedziny czasopisma:
Nauki biologiczne, Nauki biologiczne, inne, Matematyka, Matematyka stosowana, Matematyka ogólna, Fizyka, Fizyka, inne
Kanał RSS czasopisma