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Automatic Identification of Surface Defects in Semiconductor Materials Based on Machine Learning

Huan Li

Huan Li

University of Electronic Science and Technology of ChinaChengdu, China
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Li, Huan
  
17 mar 2025
Automatic Identification of Surface Defects in Semiconductor Materials Based on Machine Learning's Cover Image
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Publicado en línea: 17 mar 2025
Recibido: 08 oct 2024
Aceptado: 04 feb 2025
DOI: https://doi.org/10.2478/amns-2025-0271
Palabras clave
© 2025 Huan Li, published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Li, Huan
University of Electronic Science and Technology of ChinaChengdu, China
Idioma:
Inglés
Calendario de la edición:
1 veces al año
Temas de la revista:
Ciencias de la vida, Ciencias de la vida, otros, Matemáticas, Matemáticas aplicadas, Matemáticas generales, Física, Física, otros
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