Accès libre

Optimization of Machine Learning-based Value Assessment Model in High Value Patent Cultivation in Universities

Yihang Wei

Yihang Wei

Shaoxing University Yuanpei CollegeShaoxing, China
Recherchez cet auteur sur
Sciendo|Google Scholar
Wei, Yihang
  
03 sept. 2024
Optimization of Machine Learning-based Value Assessment Model in High Value Patent Cultivation in Universities's Cover Image
À propos de cet article
Article précédent
Article suivant
Citez
Télécharger la couverture
Publié en ligne: 03 sept. 2024
Reçu: 22 mars 2024
Accepté: 16 juil. 2024
DOI: https://doi.org/10.2478/amns-2024-2572
Mots clés
© 2024 Yihang Wei, published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Langue:
Anglais
Périodicité:
1 fois par an
Sujets de la revue:
Sciences de la vie, Sciences de la vie, autres, Mathématiques, Mathématiques appliquées, Mathématiques générales, Physique, Physique, autres
RSS Feed de la revue